薄膜反射儀可以實現(xiàn)產(chǎn)品的厚度檢測，實現(xiàn)了高精度檢測服務(wù)。我們使用超聲波測厚儀可以幫助我們更好的實現(xiàn)高精度檢測，同時降低對設(shè)備的破壞。我們可以利用這款設(shè)備實現(xiàn)的檢測，通過該設(shè)備我們會還可以實現(xiàn)非接觸檢測，幫助設(shè)備實現(xiàn)的檢測服務(wù)。
　　薄膜反射儀的薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進行10nm~250?m的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
　　薄膜反射儀主要功能及應(yīng)用范圍：
　　1. 有機、無機光電材料的結(jié)構(gòu)和性能研究
　　2. 多晶薄膜物相鑒定、取向分析、晶粒大小測定、薄層次序分析
　　3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
　　薄膜反射儀技術(shù)特征：
　　★微電腦控制、大液晶顯示
　　★進口高精度傳感器，保證了測試精度
　　★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標(biāo)定制
　　★測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
　　★手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇
　　★配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印， 方便快捷地獲取測試結(jié)果
　　★打印大值、小值、平均值及每次測量結(jié)果，方便 用戶分析數(shù)據(jù)
　　★儀器自動保存至多100組測試結(jié)果，隨時查看并打印
　　★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
　　★測厚儀配備自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，人為誤差小
　　★專業(yè)軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析，準(zhǔn)確直觀地將 測試結(jié)果展示給用戶
　　★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和 數(shù)據(jù)傳輸
　　薄膜反射儀關(guān)鍵部件均選用進口器件，濱松無臭氧環(huán)保型氘燈，德國歐士朗鎢燈，美國派來茲檢測器。保證了儀器性能的高可靠性。薄膜反射儀具有開放式的樣品室設(shè)計，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線測試。